Toplam Yansıma X-Işınları Floresansı (TXRF) Spektrometreleri

Toplam yansıma X-ışınları floresansı (TXRF), pürüzsüz yüzeyler üzerindeki parçacıkların, kalıntıların ve safsızlıkların ultra iz analizi için sıklıkla kullanılan bir yüzey elementel analiz tekniğidir.

Bu teknik, esasen özel bir geometride düzenlenmiş bir enerji dağılımlı XRF tekniğidir. Bir gelen ışın, X-ışınları için harici toplam yansımanın kritik açısının altındaki açılarda parlatılmış düz bir numune taşıyıcıya çarpar ve bu yüzeyde uyarma ışını fotonlarının çoğunun yansımasıyla sonuçlanır. Numune taşıyıcısında biriken küçük bir kalıntı olan numune, konfigürasyonda görülür, TXRF spektrometresinde ölçülen spektral arka plan, geleneksel XRF’den daha azdır. Bu azalma, sinyal gürültü oranının artmasına neden olur.

TXRF, uygulama kapsamına göre şöyle sınıflandırılır:

• Yığın kimyasal analiz: Numuneler, süspansiyon, çözünme, mineralizasyon, ön konsantrasyon ve ayırma için az ya da çok yoğun kimyasal işleme tabi tutulur.
• Mikro analiz: Çok az miktarda numune analiz edilir. Bu yönüyle TXRF, arkeometri ve adli tıpta değerli bir araçtır.
• Yüzey analizi: Düz yüzeylerin kimyasal kalitesi TXRF tarafından analiz edilmeye hazırdır.

X-ışınları, diğer herhangi bir elektromanyetik dalga gibi, herhangi bir şeffaf ortamda, örneğin vakumda düz bir çizgi yolu izler. Ancak ışın, katı bir nesnenin yüzeyi gibi ikinci bir ortamın sınır yüzeyine çarparsa orijinal yönünden sapar. Sapmanın doğası, fotonların enerjisine, arayüzü oluşturan ortamın özelliklerine ve ışının açısına bağlıdır.

Firmamız, sağlık çalışanlarının ihtiyaç duyduğu çeşitli medikal cihazlar ve ekipman üretmekte, ayrıca test ve analizler gerçekleştirmektedir. Bu çerçevede element analizörleri kapsamında toplam yansıma X-ışınları floresansı (TXRF) spektrometreleri de üretilmektedir.