Malzemeler İçin Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), bir yüzeyi tarayan ince bir uç ile numuneden gelen kuvvetler arasındaki etkileşim üzerinde çalışır. Atomik kuvvet mikroskobu, malzeme bilimi alanında malzemelerin yüzeylerindeki moleküllerin görüntülenmesi, ölçülmesi ve moleküllerin manipüle edilmesi için kullanılan en yaygın cihazdır.

Deneysel analiz sırasında ölçüm için seçilen moda bağlı olarak mekanik temas kuvveti, kılcal kuvvetler, kimyasal bağ, elektrostatik kuvvetler ve manyetik kuvvetler dahil olmak üzere çok sayıda kuvvet türünü ölçebilir.

Atomik kuvvet mikroskoplarının, diğer elektron mikroskoplara (TEM ve SEM) göre üstün tarafları bulunmaktadır. En önemli avantajı, atomik kuvvet mikroskobunun vakum gerektirmemesidir. Bu yüzden ortam koşullarında ve sıvı numunelerde de kullanılabilir. Ayrıca atomik kuvvet mikroskobu için numune hazırlama, SEM veya TEM’in gerektirdiğinden önemli ölçüde daha basittir. Atomik kuvvet mikroskobu, pahalı ve zaman alıcı numune hazırlama olmaksızın iki boyutlu görüntüler yerine ayrıntılı üç boyutlu haritalar üretebilir.

Atomik kuvvet mikroskobunun temel özelliği, herhangi bir iletken kaplama olmadan doğrudan iletken olmayan numuneler üzerinde çalışabilmesidir. Genel olarak, bu mikroskoplar üç farklı modda çalışır: temas modu, temassız mod ve dokunma modu.

Kısaca malzemeler için atomik kuvvet mikroskobu (AFM), genellikle kuvvete bağlı etkileşimleri incelemek için kullanılır.

Firmamız, sağlık çalışanlarının ihtiyaç duyduğu çeşitli medikal cihazlar ve ekipman üretmekte, ayrıca test ve analizler gerçekleştirmektedir. Bu çerçevede mikroskoplar kapsamında malzemeler için atomik kuvvet mikroskobu (AFM) da üretilmektedir.