Elipsometreler ve Reflektometreler

Elipsometri, katı yüzeyler üzerindeki çok ince filmlerin kalınlıklarını ve kırılma indekslerini ölçmek ve yansıtan yüzeylerin optik sabitlerini ölçmek için uygun ve doğru bir tekniktir. Elipsometre ile incelenebilen film kalınlıklarının alt sınırı, interferometri gibi başka yollarla incelenebilecek olandan en azından bir kat daha küçüktür. Elektron mikroskobu kullanılması durumunda vakumun neden olduğu izlere rastlanmaz. Ne interferometri ne de elektron mikroskobu, elipsometre gibi, sıvılar altındaki filmlerin incelenmesine uyarlanamaz ve sadece elipsometreler, bilinmeyen kalınlıktaki filmlerin kırılma indisini verir.

Reflektometri, nesneleri algılamak veya karakterize etmek için yüzeylerde ve arayüzlerde dalgaların veya darbelerin yansımasının kullanılması, bazen arıza tespiti ve tıbbi teşhiste olduğu gibi anormallikleri tespit etmek için kullanılan genel bir tekniktir. Reflektometreler çeşitli şekillerde sınıflandırılmaktadır:

• Kullanılan radyasyona göre: elektromanyetik, ultrason, parçacık ışınları
• Dalga yayılımının geometrisine göre: dalga kılavuzlarına veya kablolara karşı kılavuzsuz
• İlgili uzunluk ölçeklerine göre: araştırılan nesnenin boyutuna göre dalga boyu ve penetrasyon derinliği
• Ölçüm yöntemine göre: sürekli ve darbeli, çözülmüş polarizasyon

Reflektometreler ışığın yoğunluk oranını ölçerken, elipsometreler ışığın polarizasyon durumundaki değişikliği ölçer. Hem elipsometri hem de reflektometri temassız optik tekniklerdir ve her ikisi de bir sonuç elde etmek için modelleme gerektirir. Bununla birlikte, bir reflektometre ışığın yoğunluk oranını ölçerken, elipsometri ışığın polarizasyon durumundaki değişikliği ölçer.

Firmamız, sağlık çalışanlarının ihtiyaç duyduğu çeşitli medikal cihazlar ve ekipman üretmekte, ayrıca test ve analizler gerçekleştirmektedir. Bu çerçevede test ve ölçüm cihazları kapsamında elipsometreler ve reflektometreler de üretilmektedir.