Beyaz Işık İnterferometrisi Yarı Metroloji Cihazları

Beyaz ışık interferometrisi, yüzey profilleri onlarca nanometre ile birkaç santimetre arasında değişen üç boyutlu yapılar üzerinde yüzey yüksekliği ölçümü için temassız bir optik yöntemdir.

İnterferometri, dalgaları, kombinasyonlarının sonucunun bu anlık dalga cephelerinden bilgi çıkarmasına neden olacak şekilde birleştirmek için dalga süperpozisyonu ilkesini kullanır. Bunun işe yaramasının nedeni, iki dalga birleştiğinde ortaya çıkan modelin iki dalga arasındaki faz farkı tarafından belirlenmesidir. Fazda olan dalgalar yapıcı girişime, faz dışı olan dalgalar ise yıkıcı girişime maruz kalır.

Beyaz ışık interferometrisi yeni bir cihaz değildir, ancak eski interferometri tekniklerini modern elektronik, bilgisayar ve yazılımla birleştirilerek son derece güçlü ölçüm araçları üretilmiştir.

Gelişmiş beyaz ışık interferometrisi profil oluşturucular, gelişmiş paketleme uygulamaları için güçlü metroloji tabanlı denetim sağlamaktadır. Bugün en gelişmiş profil oluşturucuları, tüm önemli uygulamaları tek bir ölçümde kapsayan, gelişmiş paketleme için güçlü metroloji tabanlı denetim sağlar.

Bir kısım beyaz ışık interferometrisi profilleyicileri, bir optik sütuna sahip tek bir ölçüm kafası kullanarak geniş bir topoloji yelpazesini kapsar, ayrıca başka bir yeteneğe daha sahiptir: hem kullanılan büyütme / hedeften bağımsız olan hem de nanometre altı seviyelerde çalışan dikey çözünürlük. Gelişmiş paketleme karakterizasyonu, bu özelliklerden büyük ölçüde yararlanır.

Firmamız, sağlık çalışanlarının ihtiyaç duyduğu çeşitli medikal cihazlar ve ekipman üretmekte, ayrıca test ve analizler gerçekleştirmektedir. Bu çerçevede yarı iletken çözümleri kapsamında beyaz ışık interferometrisi yarı metroloji cihazları da üretilmektedir.