Otomatik AFM Metrolojisi Cihazları

Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), polimerler, seramikler, kompozitler, cam ve biyolojik numuneler dahil hemen hemen her tür yüzeyin görüntülenmesini sağlayan güçlü bir tekniktir. Bu teknik, yapışma kuvveti, manyetik kuvvetler ve mekanik özellikler dahil olmak üzere birçok farklı kuvveti ölçmek ve lokalize etmek için kullanılır.

Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), bir konsola tutturulmuş, çapı yaklaşık 10-20 nm arasında olan keskin bir uçtan oluşur. Bu uçlar ve konsollar, silisyum veya silisyum nitrürden mikro fabrikasyondur. Uç, uç-yüzey etkileşimlerine yanıt olarak hareket eder ve bu hareket, bir lazer ışınını bir fotodiyot ile odaklayarak ölçülür.

Atomik kuvvet profili, kimyasal mekanik yüzey düzeltme işleminin zorlu işlem adımlarını optimize etmek ve izlemek için mevcut olan en doğru, tahribatsız yöntemdir. Doğrudan ölçümler, test yapıları veya modelleri gerektirmez ve proses varyasyonlarına en iyi hassasiyet için kalıbın aktif alanında gerçekleştirilebilir.

Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), temas ve dokunma olmak üzere iki temel modda çalıştırılır. Temas modunda, cihazın ucu sürekli olarak yüzeyle temas halindedir. Vurma modunda ise, cihazın konsolu numune yüzeyinin üzerinde titreştirilir, böylece uç sadece aralıklı olarak yüzeyle temas halinde olur. Dokunma modu, görüntüleme için en yaygın kullanılan moddur, temas modu ise genellikle kuvvet ölçümleri gibi uygulamalarda kullanılır.

Firmamız, sağlık çalışanlarının ihtiyaç duyduğu çeşitli medikal cihazlar ve ekipman üretmekte, ayrıca test ve analizler gerçekleştirmektedir. Bu çerçevede yarı iletken çözümleri kapsamında otomatik AFM metrolojisi cihazları da üretilmektedir.