Prob Profilometrisi

Tüm profilometreler en az iki bölümden oluşur: bir dedektör ve bir numune kaidesi. Dedektör, numune üzerindeki noktaların nerede olduğunu belirleyen parçadır, numune kaidesi ise numuneyi tutan şeydir. Bazı sistemlerde, numune kaidesi ölçüme izin vermek için hareket eder, bazı sistemlerde dedektör hareket eder, bazı sistemlerde ise her ikisi birden hareket eder.

İki tür profilometre bulunmaktadır: prob ucu ve optik. Prob profilometreler, yüzeyi algılamak için bir prob kullanır ve yüzey yüksekliğini elde etmek için bir probu yüzey boyunca fiziksel olarak hareket ettirir. Bu işlem, yüzey boyunca tarama yaparken numunenin sondaya doğru itme kuvvetini izleyen bir geri besleme döngüsü ile mekanik olarak yapılır.

Kolu üzerinde ayar noktası olarak bilinen belirli bir tork miktarında tutmak için bir geri bildirim sistemi kullanılır. Kol tutucunun “Z” pozisyonundaki değişiklikler daha sonra yüzeyi yeniden oluşturmak için kullanılır.

Prob profilometrisi, kuvvet geri bildirimi ve yüzeye fiziksel olarak dokunmayı gerektirir, bu nedenle son derece hassas olup yüksek “Z” çözünürlüğü sağlarken, yumuşak yüzeylere karşı hassastır ve prob yüzey tarafından kontamine olabilir. Bu teknik aynı zamanda bazı yüzeylere zarar verebilir.

Prob profilometresi, yüzeyle teması korurken “X”, “Y” ve “Z”deki fiziksel hareketleri içerdiğinden, temassız tekniklerden daha yavaştır. Prob ucunun boyutu ve şekli, ölçümleri etkileyebilir ve yanal çözünürlüğü sınırlayabilir.

Firmamız, sağlık çalışanlarının ihtiyaç duyduğu çeşitli medikal cihazlar ve ekipman üretmekte, ayrıca test ve analizler gerçekleştirmektedir. Bu çerçevede yarı iletken çözümleri kapsamında prob profilometrisi de üretilmektedir.